CeBIT / BI: Opheo Analytics macht Zusammenhänge sichtbar

Februar 21 19:09 2011 Print This Article

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Hamburg, 22. Februar 2011 – Die initions AG präsentiert auf der Computermesse CeBIT (1. bis 5. März 2011) mit Opheo Analytics eine integrierte Lösung zur geobasierten Analyse komplexer Zusammenhänge, die speziell für Behörden und Organisationen mit Sicherheitsaufgaben (BOS) entwickelt wurde. Zudem zeigt das Unternehmen neue Einsatzmöglichkeiten von Microsoft Business Intelligence Produkten für Controlling, Dashboards und Scorecards. Die initions A…


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