Partikelwippe ermöglicht Partikelkontrolle von großen und planen Oberflächen

Juni 01 08:48 2015

ür die Überwachung größerer Flächen hat Clean Controlling eine Partikelwippe entwickelt. Sie macht es möglich, Partikel auf planen Oberflächen zu extrahieren und anschließend mikroskopisch auszuwerten.


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