Neue Ionenfeinstrahlanlage stärkt Nano- und Hochdruckforschung

Juli 11 07:00 2016

image description
Mit einer neuen Ionenfeinstrahlanlage (Focused Ion Beam, FIB) können Wissenschaftler bei DESY Materialien auf wenige Nanometer genau präparieren und dabei „live“ mit einem Rasterelektronenmikroskop beobachten. Darüber hinaus liefert das neue Spezialmikroskop detaillierte Einblicke in die innere Stru…


komplette Meldung auf chemie.de News lesen

  Article "tagged" as:
  Categories:
view more articles

About Article Author

write a comment

0 Comments

No Comments Yet!

You can be the one to start a conversation.

Only registered users can comment.