Neues Charakterisierungssystem vereinfacht Dünnfilm-Tests mit automatisierter Software

März 18 06:32 2026

Neues Charakterisierungssystem vereinfacht Dünnfilm-Tests mit automatisierter Software
Das Fraunhofer Institut für Photonische Mikrosysteme IPMS hat das öffentlich geförderte Projekt »SMut« gestartet, um gemeinsam mit den Start-ups Credoxys und SweepMe! ein innovatives Messsystem zur präzisen Dünnfilmcharakterisierung zu entwickeln. Dieses System ermöglicht Experimente unter variablen…


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