Mit der Neuausrichtung der Elektronenmikroskopie-Sparte auf die Scanning Electron Microscopy (SEM)-Technologie scheidet ZEISS aus dem Projekt SALVE aus. Das Projekt SALVE (Sub-Angström Low-Voltage Electron Microscopy) ist ein Großforschungsprojekt, das sich dem Ziel widmet, die Niederspannungs-Trans…
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